XRF и OES-анализаторы относятся к наиболее востребованным инструментам для точного определения химического состава металлов. Несмотря на схожую задачу, эти приборы работают по разным физическим принципам, из-за чего отличаются по глубине анализа, точности и сфере применения. Понимание ключевых различий помогает выбрать анализатор металла, который соответствует производственным требованиям, а не просто выглядит универсальным решением.

Ключевые особенности и различия технологий: как выбрать подходящий метод анализа

XRF-анализаторы основаны на рентгенофлуоресцентном методе: прибор направляет рентгеновское излучение на образец, а затем фиксирует спектр вторичного излучения. Технология не разрушает поверхность, не требует специальных подготовительных операций и позволяет работать в поле — на складе, в цехе, при входном контроле. XRF особенно эффективен для определения легирующих элементов, включая никель, хром, молибден, ванадий, медь. Он хорошо подходит для сортировки сплавов, проверки поставок и быстрой идентификации материала. Однако метод показывает ограниченную точность при работе с низкоуглеродистыми и углеродистыми сталями, так как рентген плохо фиксирует легкие элементы, включая углерод, бор и литий.

OES-анализаторы используют оптико-эмиссионную спектрометрию с искровым или дуговым возбуждением. Метод требует снятия тонкого слоя металла, но обеспечивает значительно более точное определение легких элементов, в том числе углерода, серы, фосфора и азота. Поэтому OES является стандартом для металлургии, аттестации материалов, лабораторного контроля качества и сертификационных испытаний. Точность данных делает эту технологию незаменимой для предприятий с жесткими требованиями к составу сталей. Основной минус — меньшая мобильность и необходимость подготовки поверхности.

Выбор между XRF и OES зависит от задач: если нужен быстрый, мобильный и безразрушающий анализ — подойдет XRF. Если важна лабораторная точность и контроль критически важных элементов — оптимальным становится OES.